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说到的频谱分析仪通常用在射频领域，来观察和分析被测信号的频域特性，而我们常用其配合近场探头来扫描电磁干扰的功率峰值以及找到其对应的频点，初步判定辐射源属性。眼看上去这三种仪器用途各不相同，但其实都可以用来测试晶体振荡电路的频率。如果使用示波器或者频率计，配合无源电压探头点测芯片的时钟输入引脚，就可以测量到频率，如下是各部分的电路结构：其中：CC2是晶体的负载电容，影响到频率、负性阻抗等电路参数RC3是无源电压探头的电路参数，R3是9Mohm，C3是几个pF不等R是示波器或者频率计输入通道的等效阻抗和电容，R4是1Mohm，是几十pF不等如果使用频谱分析仪，配合近场探头靠近晶体封装外壳就可以探测到辐射功率峰值的频率，这个频率也是晶体电路的振荡频率。它来源于振荡器输出信号由噪声引起的相位、频率的变化。频率稳定度分为两个方面：长期稳定度和短期稳定度，其中，短期稳定度在时域内用艾伦方差来表示，在频域内用相位噪声来表示。相位噪 8：以载波的幅度为参考，在偏移一定的频率下的单边带相对噪声功率。这个数值是指在1Hz的带宽下的相对噪声电平，其单位为dBc/Hz。该定义 早是基于频谱仪法测试相位噪声，不区分调幅噪声和调相噪声。在diag下效率为67.86%，在OS下效率为66.62%。输入输出电流基本相等，是因为输入电流到输出电流，经过PNP I6T2G为例测得的输入输出曲线如下图：输入端大于3.3V时，一直有恒定的3.3V输出，大于2.8V小于3.3V时，输入等于输出，小于2.8V时，系统就不稳定了。把输出端对地短路，并未出现大电流。5V是spec中定义的，由于怕损伤器件，输入并未超过6.5V测量。

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数字荧光频谱图在一个二维图谱上显示三维数，横轴代表频率，纵轴代表幅度，像素点的色彩是第三个维度代表密度，即统计次数。数字荧光频谱视图示意图实时频谱分析凭借数字荧光频谱图与无缝瀑布图等图的优势，能够发现瞬态信号、查找大信号下的小信号并且能够查看信号随时间变化的全部过程。现信号1.1发现强信号下的弱信号RF信号的多样化和普遍性增加了系统和信号相互干扰的可能性。RF环境的复杂化使得系统极易受到其他信号的干扰或自身产生难以察觉到的干扰信号，利用传统扫频式频谱分析仪器很难在工作环境中识别到干扰信号及其来源。从古代的脚步丈量法到现如今激光测距的普及，测量工具在不断的升级。但是有一点没有改变，那就是测量者必须跟随测量工具一起到测量距离的一端。然而，通过使用VH-8测距仪，用户可以测量线中间的任意位置来测量两点之间的距离。在复杂的工作环境中测量时，经常会感觉两只手不够用，通过使用VH-8都可以解决这些问题。VH-8测距仪一次可以测量三个数值：从测距仪到左端的距离、从测距仪到右端的距离和从左到右的直线距离。

对于速度的渴求始终在增长，传输速率每隔几年就会加倍。这一趋势在诸如计算、SAS和SATA存储方面的PCIe以及云计算中的千兆以太网等很多现代通信系统中很普遍。信息对通过传输介质传送数据提出了巨大挑战。目前的传输介质仍然依赖于铜线，数据链路中的信号速率可以达到大于25Gbps，并且端口吞吐量可以大于100Gbps。这些串行数据传输设计使用差分信号的方式，通过被称为差分对的一对铜线来传送数据。A线路和B线路内的信号是等振幅、反相位高速脉冲。